NI, 반도체 양산 테스트 환경·속도 개선한 ‘STS 소프트웨어 2019’ 발표
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NI, 반도체 양산 테스트 환경·속도 개선한 ‘STS 소프트웨어 2019’ 발표
  • 선연수 기자
  • 승인 2019.09.30 14:53
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[테크월드=선연수 기자] 내쇼날인스트루먼트(National Instruments, 이하 NI)가 프로그래밍·디버깅 환경, 테스트 실행 속도, 병렬 테스트 효율성은 물론, NI 반도체 테스트 시스템(STS, Semiconductor Test System)의 전반적인 장비 효율성을 높여주는 STS 소프트웨어 개선 사항을 발표했다.

 

 

NI는 STS 소프트웨어 2019를 통해 테스터에 액세스할 수 없는 사용자에게 테스트 프로그램을 개발할 수 있는 향상된 오프라인 환경을 제공한다. 중복 인스트루먼트 프로그래밍을 위해 간소화된 드라이버 환경과 사용 편의성이 뛰어난 디지털 스캔을 지원하며, 디버깅 환경을 개선해 DUT 사이트와 핀을 선택하기만 하면 멀티사이트 애플리케이션에서 대화식 측정을 신속하게 수행하고 자동화 테스트를 디버깅할 수 있다. 이를 통해 반도체 양산 테스트 엔지니어는 생산을 위한 테스트 프로그램 개발, 디버깅, 배포 프로세스를 더욱 빨리 진행할 수 있게 된다.

또한, 테스트 실행 시간을 단축하는 최적화된 계측 드라이버와 병렬 테스트 효율성을 높이는 향상된 스레드 관리를 바탕으로 테스트 처리량을 증대시킨다. 소프트웨어 전환 시간을 단축해 로트 간 테스터 설정을 바꿔야 할 경우에 대비함으로써, 활용률을 높이고 전반적인 장비 효율성을 개선할 수 있다.