텔레다인 달사, 새로운 CMOS 면 스캔 카메라 제품 출시
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텔레다인 달사, 새로운 CMOS 면 스캔 카메라 제품 출시
  • 이건한 기자
  • 승인 2019.06.07 14:07
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[테크월드=이건한 기자] 텔레다인 달사(Teledyne DALSA)가 새로운 Genie Nano-CXP 시리즈 제품을 출시했다. 텔레다인 달사는 이번 제품은 기존 시리즈의 성능을 새롭게 정의하며 최신 E2V 센서를 탑재한 CMOS 면 스캔(Area scan) 카메라 제품군이라고 설명했다. 

Genie Nano-CXP

이번 Genie Nano-CXP의 해상도는 16~67MP 수준이며 CoaXPress 6.25Gbps 기술을 결합해 한층 빨라진 속도, 넓은 범위의 작동 온도에서 사용할 수 있는 구조로 제작됐다. 또 절반 길이의 Xtinum-CXP 프레임 그래버와 짝을 이뤄 판매되는 이 제품은 최대 지속 처리량과 이미지 데이터의 즉각적인 사용을 지원해 결과적으로 호스트 애플리케이션의 CPU 사용을 최소화하고, 처리 시간 향상이라는 시너지 효과를 발휘한다.

또 소형 폼팩터에 80fps 속도로 2500만 픽셀을 제공하며 반도체 웨이퍼 검사와 전자제품 제조, 태양광 패널 검사, 머신 비전 등 다양한 애플리케이션에서 요구하는 안정적인 결과물과 빠른 처리 속도를 지원한다. 

다음은 텔레다인 달사가 밝힌 제품의 기타 특징이다. 

▲16M · 25MP 모델은 흑백과 NIR 강화 버전 제공 ▲ 업계 최소형 25M CXP 카메라 ▲T2IR 프레임워크로 검사 시스템 신뢰도 향상과 데이터 손실 방지 ▲ GenlCam · GenCP 협약 준수 ▲ 견고한 금속 케이스와 3년 보증