ST, 120도 내열 테스트 통과한 MCU 발표

글로벌 반도체 기업 ST마이크로일렉트로닉스(STMicroelectronics, 이하 ST)가 최고 125도(°C)에 이르는 내열 테스트를 통과한 최신 STM8S 액세스 라인(Access Line) 마이크로컨트롤러를 선보였다.

내열 테스트는 조명 컨트롤, 모터 드라이브, 산업 자동화와 같이 고온에 지속적으로 노출되는 환경에서 내구성을 보장하기 위한 것이다.

STM8S103F3U3은 ST의 효율적인 STM8 16MHz 8비트 코어와 10비트 ADC, 2개의 16비트 캡처/비교 타이머, 8비트 범용 타이머, UART, SPI 및 I2C 등의 최첨단 주변 장치들로 구성돼 다른 시판 디바이스들을 능가하는 성능과 기능을 제공한다. 이 칩에는 액세스 라인의 목표 애플리케이션에 충분한 스토리지 용량을 제공하기 위해 8킬로바이트의 플래시 메모리와 1킬로바이트의 RAM, 640 바이트의 데이터 EEPROM이 내장돼 있다.

20핀 UFQFPN20 패키지는 현재 STM8S 제품군 중 최소형이며 125°C에 최적화 되어있다. 3mm x 3mm의 공간효율적인 아웃라인으로 강력한 집적화 마이크로컨트롤러 기능에 액세스 할 수 있는 16개의 사용자 I/O를 탑재하고 있다. 또 동작전압범위가 2.95V~5.5V로 넓어서 레거시 5V 회로나 저전압, 저전력의 로직에 손쉽게 인터페이스 할 수 있는 유연성도 갖추고 있다. 

STM8 마이크로컨트롤러 신제품은 패키징 이후가 아니라 웨이퍼 전기 테스트 단계에서 125°C의 내열 테스트를 거쳤다는 점에서 경쟁력을 갖췄다. 이는 고온 테스트를 통합시키기 위한 수정 작업 없이도 기존의 대병렬(high-parallelism) 최종 테스트 기술을 계속 이용할 수 있다는 것을 의미한다.