NI, PXI 기반 ‘무선 테스트 시스템(WTS)’ 출시

내쇼날인스트루먼트(NI)가 대용량의 무선 생산 테스트 비용을 낮추는 무선 테스트 시스템 (WTS)을 9월1일 선보였다. NI 무선 테스트 시스템은 빠른 측정 속도와 병렬 테스트에 최적화된 시스템을 사용해 테스트 비용을 낮추고 생산량 증대를 돕는다.

WTS는 PXI 하드웨어의 최신 기술이 통합돼 단일 플랫폼만으로 여러 표준, 여러 DUT 및 여러 포트를 테스트할 수 있다.

또 생산 업체들은 WTS를 ‘TestStand Wireless Test Module’과 같은 유연한 테스트 시퀀싱 SW와 함께 사용하면 여러 디바이스를 병렬로 테스트할 때 계측기 활용을 크게 개선할 수 있다.

WTS는 퀄컴 및 브로드컴 등의 주요 칩을 탑재한 디바이스에 사용 가능한 테스트 시퀀스, 통합된 DUT 및 원격 자동 제어 기능을 통해 생산 라인에 손쉽게 통합된다.

이외에도 WTS는 PXI 하드웨어 및 LabVIEW(랩뷰)/TestStand SW 기반의 최신 시스템으로 LTE 어드밴스(Advanced), 802.11ac, 블루투스 LE 등의 무선 표준을 지원한다. WTS에 포함된 SW 기반의 PXI 벡터 신호 트랜시버 기술은 생산 테스트 환경에서 우수한 RF 성능을 구현하며 RF 테스트 변화 요구에 맞게 확장 가능한 플랫폼을 제공한다.