PXT 테스트 세트 및 LTE 인증 시험 솔루션 발표
46종의 새로운 PXI 및 AXIe 제품 출시
애질
애질런트테크놀로지스(www.agilent.com)는 LTE 개발 라이프사이클 전반에 사용되는 강력한 하드웨어 테스트 플랫폼인 PXT 무선 통신 테스트 세트 및 PXT의 기능을 시그널링 인증 시험 측정 솔루션으로 확장하는 3GPP LTE 단말기용 '애질런트 N6070A 시리즈 시그널링 인증 시험 측정 솔루션'을 발표했다.
PXT 무선 통신 테스트 세트는 하나의 동일한 장비 기반으로 RF 특성, 프로토콜 검증 및 LTE 단말기의 엔드-투-엔드 데이터 전송과 애플리케이션 측정, 그리고 인증 시험 측정까지의 모든 LTE 측정이 가능하게 만들어졌다. 이 새로운 장비는 성능과 확장성을 극대화하면서, 설계 불확실성 및 테스트 셋업 시간을 최소화하여 LTE 디바이스 검증 방법을 완전히 바꾸어준다.
측정, 인증 시험 측정까지 모든 LTE 측정 가능
애질런트의 마이크로웨이브 및 통신사업부의 제너럴 매니저인 기 세네씨는 "PXT 무선 통신 테스트 세트는 LTE 단말기 생산자들을 빠르게 개발에서 상용화 단계에 이르게 하며, 무결점성과 제품의 품질 향상, 제품 단가 인하를 가능하게 한다" 고 말하며, 또한"이 테스트 장비 세트를 소개함으로써 애질런트는 LTE를 비롯하여 다른 무선통신기술을 위한 전자 측정 솔루션의 포트폴리오가 타의 추종을 불허하게 더욱 강력해졌다"고 밝혔다.
애질런트의 PXT 테스트 세트는 계획된 모든 LTE 상용화 계획에 적합한 단말기 측정에 있어 매우 중요한 돌파구가 될 것으로 예상했다.
애질런트테크놀로지스는 이 새롭고 혁신적인 측정 솔루션이 LTE 네트워크 상에서 프로토콜 실행 및 신뢰할 수 있는 성능의 보장이 필요한 LTE 개발자를 위한 필수 도구가 될 것이라며, 새로운 솔루션은 통신 사업자들이 신속하게 스마트 휴대폰과 데이터 카드와 같은 강력한 LTE 단말기를 상용화할 수 있게 한다고 전했다.
이 솔루션을 사용하게 되면, 빠르게 추가되고 있는 광범위한 테스트 시나리오 실행을 위한 핵심 측정 요구 사항들을 넘어, 고객 자신들이 자신에게 필요한 테스트 케이스를 직접 만들면서 보다 포괄적 범위의 테스트를 실현 시킬 수 있다.
모듈 제품 출시로 고객 선택폭 넓혀
이러한 새로운 제품들로 인해 첨단 측정 소프트웨어와 고성능 하드웨어 등 애질런트의 계측 기술은 모듈 형으로 더욱 확장 진일보하게 되었으며, 아날로그, 디지털, RF, 마이크로웨이브 및 광학 측정 기술을 막론하고 이전에 존재하지 않던 성능들을 가능하게 되었다.
론 너세시언 애질런트 계측기 그룹 총괄 사장은 "기존의 벤치 탑 혹은 휴대용 형태에서, 새로운 모듈 형 제품에 이르기까지 애질런트는 고객이 원하는 다양한 형태의 테스트 솔루션 공급하는 것을 목표로 하며, 이에 최선의 노력을 다하고 있다"면서, "하나의 하드웨어 또는 소프트웨어 솔루션으로 모든 테스트를 처리하는 것을 불가능하다. 연구, 개발, 설계, 제조를 막론하고, 애질런트 PXI 및 AXIe 제품은 시스템 개발자들에게 한층 향상된 속도, 성능, 그리고 유연성을 제공할 것"이라고 자신했다.
46종의 PXI 및 AXIe 제품군에는 디지타이저, 임의 파형 발생기, 디지타이징 오실로스코프, 디지털 멀티미터(DMMs) 및 일련의 스위치가 포함된다. 모듈에는 IVI-C, IVI-COM 및 LabVIEW(G) 소프트웨어 드라이버와 한층 향상된 입/출력(I/O) 라이브러리가 포함된다. 모든 드라이버는 고성능, 고속, 높은 생산성을 요구하는 테스트 애플리케이션을 위하여 최적화 되어 있다.
<신윤오 기자>
텍트로닉스
오실로스코프, 샘플링 속도와 신호 무결성 한 차원 높이다
100 GS/s 실시간 오실로스코프 발표, 고속 설계에 탁월한 마진 제공
텍트로닉스의 DPO/DSA/MSO70000C 시리즈 오실로스코프는 고대역폭 오실로스코프 분야에서 현재 세계 최고속도의 샘플링 성능을 제공함으로써 PCI Express Gen 3과 같은 고속 시리얼 표준에 대해 더 정확한 신호 무결성 측정 툴을 제공할 수 있다고 밝혔다.
4GHz가 넘는 대역폭의 고성능 오실로스코프는 다양한 고속 시리얼 애플리케이션, 광대역 레이더, 고속 광통신 시스템, 복잡한 임베디드 시스템 및 고에너지 물리학 애플리케이션에 사용된다. 최근 디지털 설계가 더욱 더 빠른 데이터 속도로 바뀌어 감에 따라 측정 시스템이 제공하는 마진은 중요한 요인이 되었다. 현존하는 오실로스코프 중 가장 빠른 샘플링 속도를 제공하는 DPO/DSA/MSO70000C 시리즈는 설계자들에게 최신 첨단 컴포넌트와 시스템으로 설계 사양을 충분히 충족시킬 수 있는 성능과 신호 충실도를 제공한다.
텍트로닉스의 고성능 오실로스코프 총책임자인 브라이언 라이히(Brian Reich)는 "고성능 오실로스코프의 가장 중요한 요구조건으로는 높은 샘플링 속도로 노이즈 플로어를 낮추고 지터를 제거하여 신호 무결성 측정 성능을 향상시키는 것이다. 샘플링 속도가 100GS/s에 달하는 DPO/DSA/MSO70000C 시리즈는 고객들에게 수준 높은 성능을 제공함으로써 제조 원가를 절감할 수 있도록 훨씬 더 많은 측정 마진을 제공한다"라고 말했다.
DPO/DSA/MSO70000C 시리즈는 기존의 "B" 시리즈에 비해 샘플링 속도가 2배 높아졌을 뿐만 아니라 자체 하드웨어 플랫폼의 개선으로 속도도 향상시켰다. 새 플랫폼은 지터, 노이즈, BER(비트 오류율) 측정 및 통계 등의 장시간 데이터 기록을 더 빨리 처리할 수 있으며, 부팅 시간 및 애플리케이션 구동 시간도 훨씬 더 빨라졌다.
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