세미콘코리아 2019, 아드반테스트 반도체 테스트 솔루션 공개

[테크월드=박진희 기자] 아드반테스트(Advantest Corporation)가 1월 23~25일까지 코엑스에서 열리는 세미콘코리아 2019에서 첨단 IC 테스트, 웨이퍼 계측 솔루션을 선보일 예정이다.

아드반테스트가 전시관 C홀 #C510 부스에서 선보일 제품 중에는 최근 발표한 시스템과 향상된 제품이 포함된다. MPT3000 플랫폼은 업그레이드돼 PCIe Gen 4 SSD의 개발, 디버깅, 대량 생산을 위한 통합 테스트 솔루션이 되었다.

전시될 제품은 UFS3.x와 PCIe Gen4 BGA 포함 차세대 모바일 프로토콜 NAND를 위한 플렉서블 T5851 메모리 테스터, 동종 중 유일하게 차세대 고속 LPDDR5, DDR5 메모리의 첨단 요소 평가가 가능한 T5503HS2 시스템, 16 Gbps 이상의 속도로 첨단 장비 테스트를 지원하는 HiFix 고속 메모리 테스트 솔루션, E3650, E5610 등 나노 기술 적용을 위한 측정 솔루션. 포토마스크, 웨이퍼용 주사 전자 현미경(SEM) E3310. F7000 1X-nm 테크놀로지 노드 전자빔 식각 시스템 등이 있다. 

부스에는 센서부터 커뮤니케이션까지 차내 전자 장치의 성능, 신뢰성 향상에 아드반테스트의 테스트 솔루션이 차랑에서 어떻게 사용되는지 보여줄 예정이다.

또한, 시스템 레벨 테스트를 위한 T2000 플랫폼과 자동차, 산업, PMIC 적용을 위한 IC 테스트를 실행하는 V93000 스마트 스케일 시스템의 FVI16 부동 고출력 VI 소스, 새로운 HVI(고전압 VI 소스 및 측정) 모듈을 갖춰 가전 제품에서 대량으로 사용되는 고출력 IC까지 플랫폼 범위를 확장한 EVA100 측정 시스템, 아드반테스트의 테스터에서 사용하도록 설계된 프로브 카드를 선보인다.