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NI, 반도체 테스트 시스템의 PXI SMU 채널 집적도 6배 높인다
이나리 기자 | 승인 2018.01.31 11:12

[EPNC=이나리 기자] 내쇼날인스트루먼트(이하 NI)가 고집적도 소스 측정 장치(SMU) PXIe-4163을 발표했다. 이 제품은 테스트 RF, MEMS, 혼합 신호와 기타 아날로그 반도체 부품을 테스트하기 위한 기존의 NI PXI SMU보다 6배 향상된 DC 채널 집적도를 제공한다.

NI의 글로벌 세일즈, 마케팅 부사장인 에릭 스타크로프(Eric Starkloff)는 "5G, IoT(사물 인터넷), 자율주행차처럼 매우 획기적인 기술로 인해, 반도체 생산업체는 개발에서 양산에 이르기까지 더 효율적인 반도체 테스트 방식을 발전시키고 도입해야 하는 부담을 지속적으로 안고 있다”라고 말하며 “반도체 테스트는 NI가 전략적으로 주력하는 분야이다. 당사는 반도체 제조업체가 주요 당면 과제를 해결할 수 있도록 소프트웨어 플랫폼과 PXI의 기능을 확장하고 있으며, 이 최신 PXI SMU가 그 대표적인 예다"라고 밝혔다.

반도체 제조업체는 양산 라인의 비용과 사용 공간을 활용해 스루풋과 성능에 대한 반도체 테스트 시스템(STS)을 빠르게 도입하고 있다. 새로 출시된 PXIe-4163 SMU는 이런 기능을 더욱 보완한다. 이 제품은 DC 채널 집적도를 증가시켜 다중 사이트 애플리케이션의 병렬 처리 기능을 높이고, 즉시 생산 가능한 폼 팩터의 R&D 등급 측정 품질을 향상시킨다. 엔지니어는 이러한 조합을 활용하여 검증 단계와 양산 테스트에서 동일한 장치를 사용할 수 있으며, 이는 측정 상관관계 분석으로 인한 문제(Data Correlation) 를 줄이고 제품 출시 기간을 단축해준다. 

엔지니어는 STS 구성 또는 독립형 PXI 시스템에서 최신 PXIe-4163 SMU를 사용할 수 있다. 주요 제품 기능은 ▲단일 PXI Express 슬롯에서 최대 24개 채널 가능 ▲채널당 +/- 24V ▲채널당 최대 100mA 소스/싱크 ▲100pA의 전류 감도 ▲최대 100kS/s의 샘플링 속도 ▲SourceAdapt로 오버슛, 진동 최소화 ▲인터랙티브 구성 및 디버그 소프트웨어 ▲단일 PXI 섀시에서 고정밀 SMU 채널 최대 408개 지원(랙 공간 4U) 등이다.

STS는 엔지니어가 보다 스마트한 테스트 시스템을 구축할 수 있는 NI PXI 플랫폼을 기반으로 한다. PXI 플랫폼에는 1GHz 대역폭을 갖춘 벡터 신호 트랜시버(Vector Signal Transceiver), fA 등급의 SMU, 상업용 표준 재고 테스트 관리 소프트웨어인 테스트스탠드(TestStand), DC에서 mmWave에 이르는 600개 이상의 PXI 제품이 포함돼 있다. 

#NI#반도체 테스트#내쇼날인스트루먼트

이나리 기자  narilee@epnc.co.kr

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