[테크월드=정동희 기자] 국내 전자 계측기 종합 유통 회사인 누비콤이 NI와 대리점 계약을 맺고 NI의 반도체 테스트 시스템을 국내에 공급한다.
NI의 STS(반도체 테스트 시스템)는 RF와 혼합 신호 반도체 생산 테스트를 위해 개방형·플랫폼 기반 방식으로 모듈형 계측기와 시스템 설계 소프트웨어를 통합한 장비이다.
이 시스템은 반도체 생산 테스트 환경에서 NI의 PXI 모듈을 사용하는데 RF 및 아날로그/디지털 혼합 신호기기의 테스트 비용을 매우 절감시켜 준다는 장점이 있다. 기존의 대형 반도체 자동화 시스템 장비(ATE)와는 달리 NI의 STS를 사용하면 반도체 개발 및 제조생산 부분 모두에서 비용을 절감하고 효율성을 높일 수 있다.
신동만 누비콤 사장은 “오늘날 회로 집적화의 발전이 매우 빨라짐에 따라 연구개발 부문에서의 설계 검증과 최종 제조생산 부문에서의 테스팅 업무를 커버해 주는 ATE의 기능이 중요하다”며 “혼합 신호 테스트에서 PXI를 기반으로 하는 NI의 STS는 타 장비에 비해 훨씬 저렴한 비용으로 테스트 부문을 커버할 수 있으므로 기존의 대형 ATE에 비해 확실히 효율성을 높여주는 시스템이다”고 말했다.
개방형 또는 모듈형 솔루션으로 된 NI의 반도체 테스트 시스템은 기존 폐쇄형 구조의 ATE와는 달리 최신의 PXI 장비를 쉽게 적용할 수 있는 유연함이 있다. 가장 최근에 개발된 반도체 기술들은 기존의 ATE로는 테스트 범위를 벗어나는 경우가 있고 RF 및 혼합 신호의 테스트에는 특히 민감할 수 있다.
NI의 STS는 ‘테스트 스탠드(Test Stand)’라고 하는 테스트를 관리해 주는 소프트웨어와 랩뷰(Lab View)라고 하는 설계 소프트웨어로 컨트롤되는 유연한 PXI 기반으로 사용자가 독자적으로 원하는 모든 환경에 맞추어 시스템을 구성할 수 있다.
NI는 기존의 ATE 시스템들은 테스트 시스템들이 점차 새로운 테스트 조건을 만족시키지 못함에 따라 비용이 많이 드는 리툴링이 필요했지만 STS의 개방형 구조는 기존의 것들을 버리지 않고 유지할 수 있게 한다고 밝혔다.
또한 NI는 이와 같은 STS의 구조가 사용자의 성능 사양에 맞춰 재설정하고 테스트 플랫폼을 확장시킬 수 있는 유연성의 위력을 보여 주는 것이라고 덧붙였다.
NI의 STS는 세 가지의 PXI 본체에 맞춘 세 모델(T1, T2, T4)이 있다. 이는 광범위한 핀 카운트와 사이트 카운트의 요구 조건들을 사용자의 목적에 맞게 충족시킬 수 있도록 구성된 것이다.
무엇보다도 PXI의 최대 장점인 확장성으로 제품의 설계 검증부터 양산까지 적용이 가능하기 때문에 비용 절감은 물론 제품의 시장출시 시간을 단축할 수 있는 장점이 있다는 것이 최고의 특징이라 할 수 있다.
그래도 삭제하시겠습니까?