텍트로닉스, 디스플레이포트 타임-C 트랜스미터 적합성 테스트 솔루션 발표

텍트로닉스가 새로운 디스플레이포트 타입-C 트랜스미터 테스트 솔루션을 발표했다.

이번에 업그레이드된 솔루션은 이전 텍트로닉스 디스플레이포트 솔루션은 물론 타사 동일 제품과 비교해 적합성 테스트 시간을 크게 단축시킨 제품이다. 실제 현장 평가에 따르면 이 솔루션은 텍트로닉스 고성능 오실로스코프와 함께 사용할 수 있도록 고도로 최적화돼 있어 엔지니어들은 본 솔루션을 이용해 디스플레이포트 타입-C 적합성 테스트를 6시간 안에 완료할 수 있다.

디스플레이포트 적합성 테스트에서 가장 큰 문제점 중 하나는 긴 테스트 시간으로 그 동안 엔지니어는 실행 과정을 모니터링 하는 테스트 장치 앞에 앉아서 많은 시간을 보내야 했다. 이러한 문제에 더해 USB 3.1 사양에서 대체 모드 중 하나로 지원되는 디스플레이포트 타입-C에 대한 테스트도 통합시켜야 했다.

이번에 새로 발표된 텍트로닉스 DisplayPort 테스트 솔루션에는 완전 자동화뿐만 아니라 단축된 테스트 시간 외에도 사용자가 개입할 필요 없이 테스트를 수행할 수 있는 자동화된 테스트 설정, 타이머 팝업 등을 포함하여 타입-C 사양에 대한 지원도 통합돼 있다.

브라이언 라이히 텍트로닉스 고성능 오실로스코프 담당 총책임자는 “제한된 일정과 예산에서 신제품 디자인 출시에 대한 압박에 시달리는 엔지니어들에게 테스트 및 측정 시간 단축은 시장 성공에 있어서 중요한 요소가 될 수 있다”며 “이 솔루션으로 우리는 고객이 디스플레이포트 설계에 더욱 집중할 수 있는 시간을 돌려 줄 수 있게 됐고 이제 고객은 수행하고자 하는 테스트를 선택하고 테스트가 실행되는 동안 다른 작업을 할 수 있다”고 말했다.

이번 발표에서 주요 기능 중 하나는 반도체 특성화 및 디버그에 도움이 되는 DPOJET 측정 라이브러리의 도입이다. 적합성 테스트 과정 중에 테스트 실패시 DPOJET 디스플레이포트 측정 라이브러리를 활용해 아이 다이어그램 마스크 히트 실패 원인을 심층 분석한후 프리엠퍼시스 레벨과 전압 변동폭 테스트간의 관계를 파악해 근본 원인을 분석할 수 있다.

또 이 솔루션을 통해 사용자들이 서로 다른 설정의 측정을 구성하고 즉석에서 기존 측정 구성을 변경하며 1회성 모드 또는 프리런(Free-run) 반복 모드로 테스트를 수행할 수 있는 유연성을 확보할 수 있다.

디스플레이포트 TX 자동 솔루션은 자동화를 위해 설계된 첨단 도구인 텍익스프레스(TekExpress) 프레임워크를 사용해 디스플레이포트 1.2 타입-C 사양 및 CTS에 대한 적합성 테스트를 지원한다.

백엔드 자동화 엔진은 소켓 기반 프로그래밍 및 넷(Net) 원격 기능을 사용하는 아이론 피톤(Iron Python)을 바탕으로 한다. 소켓 기반의 스크립팅 인터페이스는 사실상의 표준으로 엔지니어가 자동화된 텍트로닉스 솔루션을 자신들의 자동화 환경에 통합할 수 있도록 해 준다.