텍트로닉스, 반도체 분석 완화 '파라미터 분석기' 출시

키슬리 4200A-SCS 파라미터 분석기는 테스트 설정이 간편하면서도 명확하고 정밀한 결과를 제공함으로써 새로운 사용자 또는 일시적인 사용을 원하는 사용자가 복잡한 특성 파악에 할애하는 수고를 덜어줘 반도체 장치, 소재, 공정 관련 이해를 돕는다.

키슬리 4200-SCS 파라미터 분석기의 성공을 기반으로 신규 4200A-SCS 장비는 현대적 산업디자인, 새로운 그래픽 사용자 인터페이스를 갖췄고 전문가 교육 영상을 장비와 함께 제공하는 등 자가 학습이 가능한 다양한 도구를 제공한다.

결과적으로 테스트 설정 시간이 최대 절반으로 절약되고 훨씬 간편하고 직관적인 조작이 가능하다. 반도체 장치 연구, 장치 장애 분석, 다수 사용자가 공유하는 장비에 대한 신뢰성 실험과 같은 응용 분야의 경우 이러한 편리성이 특히 중요하다.

마이크 플래허티(Mike Flaherty) 텍트로닉스 키슬리 제품 군 총책임자는 “파라미터 분석은 상용 이전 단계에서 새로운 반도체 장비, 소재의 특성을 파악하거나 장치의 신뢰성을 실험할 때 중요하지만 실험 빈도가 낮기 때문에 연구자들이 파라미터 시험 장비를 전문적으로 다루기는 매우 어렵다”고 말했다.

그는 덧붙여 “이를 감안하여 오랜 연구 끝에 4200A-SCS는 설치가 이례적으로 쉽고 파라미터 분석기에 대한 사전 지식이 없는 사용자도 조작법을 쉽게 터득할 수 있도록 제작됐다”고 강조했다.

키슬리 4200A-SCS 메인 프레임에 사용하는 본 모듈은 SMU(I-V)와 커패시턴스-전압(C-V) 측정 간에 온더플라이 스위칭을 제공하여 프로버 니들이나 이동 케이블을 움직이지 않고도 C-V 측정을 다른 장치 단자로 이동시킬 수 있게 해준다.

4200A-SCS에는 새로운 고화질 와이드스크린 디스플레이가 장착돼 테스트와 실험 상호작용을 위한 넓은 화면 면적을 제공한다. 디스플레이는 미숙한 사용자들이 필요로 하는 직관적 조작이 가능하면서 동시에 전문가가 요구하는 고급 기능을 지원하는 전적으로 새로운 그래픽 사용자 인터페이스와 결합돼 있다.

새로운 사용자 인터페이스에는 전세계 키슬리 응용 기술 엔지니어의 지식과 지혜를 집약한 전문가 영상이 함께 제공된다. 영상은 사용자의 학습곡선을 단축시키고 예상치 못한 결과가 발생했을 때를 대비한 문제해결 능력을 배양하고 결과에 대한 자신감을 길러준다.

4200A-SCS는 전체 통합식 모듈형 파라미터 분석기로 소재, 반도체 장치, 공정의 전기적 특성을 뒷받침한다.

I-V 특성화를 위한 소스 측정 장치, AC 임피던스 측정용 커패시턴스-전압 모듈, 펄스 I-V와 파형 포착 및 트랜젠트 I-V 측정이 가능한 초고속 펄스 측정 장치로 구성된 4200A-SCS는 재료 연구, 반도체 장치 설계, 개발 또는 생산을 위해 연구자 또는 기술자가 필요로 하는 핵심 파라미터를 제공한다.