동시에 수백 개의 신호에 대한 마스크 테스트와 아이 다이어그램 분석 기능을 제공함으로써 테스트 시간 단축오레곤주 비버톤, 2003년 12월 3일 – 디지털 설계자를 위한 선도적인 테스트 장비 제공업체인 Tektronix, Inc.(NYSE: TEK)는 설계, 디버깅 및 문제해결의 효율성을 극대화하기 위해 로직 분석기, 오실로스코프, 기타 액세서리 장치로 구성된 통합 솔루션인 iLink Tool Set의 신호 처리를 해주는 TLA700 Series 로직 분석기의 새로운 신호 분석 기능을 오늘 발표했다.늘 제품 개발 일정에 쫓기는 엔지니어들은 디지털 시스템을 설계하고 디버깅 작업을 하면서 새로운 도전에 직면하곤 한다. 하드웨어, 소프트웨어 및 펌웨어가 서로 별개의 영역으로 존재하는 경우는 점점 드물어지고 오히려 서로에게 밀접한 영향을 주고받는 통합형 솔루션이 대세를 이루면서, 어떤 오류가 발생하더라도 그 근본 원인을 파악하기 어려운 경우가 점점 많아지고 있다. 예를 들어, 애플리케이션 레벨에서 장애가 발생했을 때 그 원인이 애플리케이션 소프트웨어 자체 원인일 수도 있겠지만, 패킷화된 프로토콜, 디지털 로직 또는 버스 타이밍이 원인이 될 수도 있는 것이다. 따라서, 설계자들은 시스템에 대한 보다 종합적인 시각을 가질 필요가 있고, 시스템 오류를 정확히 파악하기 위해 새로운 분석 능력이 필요하다.Tektronix의 TLA700 Series 로직 분석기는 동시에 수백 개의 신호에 대한 아이 다이어그램과 마스크 테스트 기능을 제공하는 iVerify로 이러한 필요성을 충족시켜준다. iLink Tool Set의 일부인 iVerify는 오실로스코프의 강력한 아이 다이어그램 생성 기능을 사용하여 다중 채널 분석과 검증 테스트를 할 수 있도록 해준다.Tektronix의 로직 분석기 사업본부장인 David Bennett은 “오늘날의 설계자들은 수없이 생성되는 신호와 엄청난 분량의 데이터를 빠르게 살펴보고 분석해야 하기 때문에 종종 고속 버스를 사용하는데, 여기서 생기는 오류를 식별 및 파악하기 위해서는 최적의 샘플 셋업 및 홀드 기능이 필요하다”면서 “예전에는 한번에 단지 몇 개의 채널에 대해서만 시스템 분석이 가능했지만, iVerify를 이용하면 동시에 수백 개의 채널에 대한 분석 작업도 가능하므로 훨씬 더 큰 규모의 검증 테스트를 할 수 있다”고 말했다.iVerify는 Tektronix TLA700 Series 로직 분석기용 하드웨어, 소프트웨어, 액세서리 장치 및 프로브로 구성된 컴비네이션 제품으로서, Tektronix 오실로스코프와의 빈틈없는 통합을 지원하며 Tektronix의 iLink Tool Set에 최근에 추가되었다. iVerify는 iConnect™ (단일 프로브를 통한 디지털/아날로그 데이터 수집) 및 iView™ (디지털/아날로그 신호의 시간과의 상관관계 표시)와 함께 2000년에 시작된 프로젝트인 iLink Tool Set을 완결하는 의미를 갖는 제품이다. iLink Tool Set은 고성능의 아날로그/디지털 프로빙, 데이터 수집, 디스플레이 및 분석 기능을 제공하여 수 많은 신호들의 디버깅 속도를 획기적으로 높이고 시스템 설계의 무결성을 보장해준다.iVerify는 현재 모든 TLA700 Series 로직 분석기에 탑재되어 출하되고 있다. 기존의 TLA700 사용자는 www.tektronix.com에서 TLA Application Software Version 4.3을 무료로 내려 받아 이런 기능들을 확보할 수 있다. Tektronix 신호 무결성 솔루션에 대한 상세 정보는 다음 웹사이트에서 확인할 수 있다. www.tektronix.com/la.
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