첨단 다층 인쇄회로기판(PCB)을 제조하는 데 사용하는 동막적층 및 유전 프리프레그 재료 기업인 아이솔라 그룹(www.isola-group.com)은 자사의 새로운 초저손실 제품으로 고속 디지털 설계에서 삽입손을 줄이기 위해 제작된 Tachyon의 알파 테스트를 시작했다고 발표했다.
이 제품은 특히 채널 데이터 속도가 25 Gbps를 초과하는 초당 100기가비트(Gbps) 시장이 성장함에 따라 고다층 후면판을 겨냥하여 개발되고 있다. 보다 다양한 기능의 애플리케이션, 보다 빠른 컴퓨터 접속, HDTV, 화상회의, 주문형 비디오, 디지털 사진촬영에 대한 수요는 전 세계의 기업, 데이터 센터 및 통신업체 네트워크에 100 Gbps 이더넷(Ethernet)의 소요를 촉진했다.
Tachyon 적층판 및 프리프레그는 뛰어난 전기적 특성을 갖추고 있어, 광범위한 주파수 및 온도 범위에서도 극히 안정적이므로 보다 빠른 데이터 속도를 갖춘 후면판과 부속 카드를 사용하는 차세대 설계에 적합하다.
빠르고 경제적인 휴대형 바코드 리더기
- 코그넥스, DataMan 8050 시리즈 출시
머신 비전 시스템 및 ID 자동인식 분야 글로벌 리더인 코그넥스(www.cognex.com)는 자사 제품 중 가장 빠르고 경제적인 산업용 휴대형 리더기, DataMan 8050 시리즈를 출시했다.
혹독한 공장 조건을 견딜 수 있도록 견고한 하우징에 설계되고, 세계 최고로 꼽히는 코그넥스의 바코드 판독 알고리즘을 탑재한 DataMan 8050 시리즈는 까다로운 바코드도 빠르고 손쉽게 판독한다.
특허 출원 중인 DataMan 8050 및 8050X는 자동차, 소비재 전자제품, 항공우주, 포장 등 다양한 제조 환경에서 사용되는 애플리케이션에 적합하다. DataMan 8050 및 8050X는 특허를 취득한 코그넥스의 1DMax+ (Hotbars 지원) 알고리즘을 이용해, 손상되었거나 저대비 또는 직접 잉크젯 바코드에서 고속 판독 성능을 지원한다.
업계 최고의 2-D 알고리즘을 갖춘 8050은 DataMatrix, QR, PDF417, Aztec 코드를 포함해 다양한 2-D 기호를 빠르게 디코딩할 수 있다.
새로운 'RADLO 로우 알파 도금용 양극' 소재 선봬
- 하니웰, 반도체 패키징 애플리케이션용으로 개발
하니웰(Honeywell)은 반도체 데이터 오류의 원인이 될 수 있는 알파 입자 방사선을 줄이기 위해 자사의 독점 기술을 바탕으로 새로운 'RadLo™ 로우 알파 도금용 양극(Low Alpha Plating Anodes)' 소재를 선보인다고 밝혔다.
이번에 선보인 반도체 패키징 웨이퍼 범핑(bumping) 애플리케이션을 위한 도금용 양극 소재는 하니웰의 RadLo 납품량을 증가시키고 있다.
여기에는 하니웰만의 독점적인 측정법과 정제 기술이 사용됐다.
크리스 리(Chris Lee) 하니웰의 첨단 금속 및 폴리머 사업부(Advanced Metal and Polymers)의 제품 라인 이사 는 "이 새로운 '로우 알파 도금용 양극'소재는 이미 주요 하청 업체에서 대량생산하고 있으며, 또한 많은 OEM 툴 제조업체들로부터 성능을 검증 받았다"며, "본 제품의 검증과 채택이 신속히 이루어졌다는 것은 하니웰이 고객들의 요구사항과 문제 해결에 크게 기여하고 있다는 것을 증명한다"고 말했다.
반도체 패키징 소재에서 나오는 알파 입자 방사선은 메모리 셀에 데이터 오류를 일으켜 소프트 에러를 발생시키고, 이는 또 다시 휴대폰, 태블릿, 서버, 게임기 등 전자 기기들의 오작동을 불러 일으킨다. 반도체의 크기는 줄어들고 기능적 요구는 늘어나면서 소프트 에러에 대한 칩의 민감도도 커지게 됐다.
이런 문제를 해결하기 위해 반도체 패키징 소재 설계자들은 하니웰의 RadLo와 같은 로우 알파 소재에 주목하게 되었다. RadLo 양극 도입은 반도체 업계가 플립 칩(flip chip) 패키징으로 이행하는 추세와 웨이퍼 범핑 애플리케이션에 전기도금을 사용하는 경우가 늘어나는 현상에도 기여한다. 하니웰은 로우 알파 납(Pb), 로우 알파 주석(Sn) 및 구리(Cu) 등의 고순도(>99.99% 순도) 금속을 이용한 웨이퍼 범핑에 사용하는 도금용 양극 제작에 우위를 점하고 있다. 로우 알파 주석(Sn) 양극은 시간당 <0.002 카운트 (<0.002 per hour/ cm2) 등을 포함해 몇 가지 로우 알파 등급으로 출시된 상태이다.
LTE 디바이스 고속생산 시험 인정받았다
- 안리쓰, 시퀀스로부터 MT8870A 승인
안리쓰 코퍼레이션(www.anritsu.com)은 MT8870A 범용 무선 테스트 세트(Universal Wireless Test Set)를 시퀀스(Sequans)의 LTE 플랫폼인 몽블랑(Mont Blanc)을 기반으로 한 LTE 디바이스들의 진보된 제조 시험 솔루션으로서 사용하는데 대하여 LTE 칩셋 제조사인 시퀀스 커뮤니케이션즈(Sequans Communications)로부터 승인을 받았다고 발표했다.
최고의 생산 설비라 함은 비용 절감적 생산 솔루션이 가능하도록 빠르고 신뢰도 높은 시험 방법을 필요로 하며, MT8870A는 유연한 하드웨어 구성과 정교한 소프트웨어 솔루션으로 이러한 요구에 부합한다고 업체 측은 밝혔다.
MT8870A는 여러 표준과 여러 안테나 시험을 동시에 지원함으로써 비용 효과적인 솔루션을 제공하며 모듈식의 확장 가능한 본체 구조를 갖고 있다. MT8870A는 모든 전세계의 주요 셀룰러 표준과 근거리 무선통신, GNSS 및 FM 라디오 시험을 지원한다.
차세대 10Gbps 수퍼스피드 USB 테스트
- 텔레다인르크로이, USB 3.1 프로토콜 분석기 출시
텔레다인르크로이(http://teledynelecroy.co.kr)는 최근 차세대 10Gbps 수퍼스피드 USB (USB 3.1) 시스템의 테스트를 위한 프로토콜 분석기와 발생기 일체형 플랫폼을 발표했다.
기존 USB 3.0 링크와 완벽하게 호환되는 Voyager M310은 USB 3.1 디바이스와 시스템의 프로토콜 트래픽과 10Gbps 속도의 버스를 완벽하게 포착한다. 특히 호스트와 디바이스의 트래픽 발생기 옵션을 분석기에 통합, 하나의 시스템으로 구현한 것이 강점이다.
트래픽 발생기를 사용하면 잘못된 링크 조건의 에뮬레이션 및 프로토콜 컴플라이언스 검증이 가능하므로 제품 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
"차세대 수신기 테스트 과제에 대한 해답"
- 한국애질런트, BER 테스트 솔루션 출시
한국애질런트(대표이사-사장 윤덕권)가 물리 계층의 특성화 및 검증, 멀티 기가 비트 디지털 설계에 사용되는 리시버 적합성 테스트를 위해 통합된 확장 가능한 새로운 M8000 시리즈 BER(비트 에러율) 테스트 솔루션을 출시했다.
광범위한 데이터 전송률과 표준을 지원하는 새로운 M8000 시리즈 BER 테스트 솔루션은 컴퓨터, 가전, 서버, 모바일 컴퓨터 및 데이터 센터(data-center) 제품 등을 위한 고속 디지털 디바이스의 성능 테스트에 대한 통찰력을 증대 시킬 수 있는 정확하고 신뢰할 수 있는 제품이다.
R&D와 검증 팀들은 차세대 설계를 특성화할 때, 여러 도전 과제에 직면하게 된다. PCI Express 4(16GT/s의 비트 전송 속도)와 USB 3.1(10Gb/s의 비트 전송 속도) 등과 같은 최신 차세대 디지털 컴퓨터 버스의 보다 빠른 데이터 전송 속도는 신호 무결성에 대한 새로운 도전 과제에 직면하게 한다. 그리고 새로운 128/130비트와 128/132 비트 코딩 포맷은 오류 검출과 루프백(loopback) 패턴 생성을 복잡하게 한다.
고속 디지털 설계의 정확한 수신기 특성화
또한 모바일 컴퓨팅 디바이스들이 널리 적용되면서 연구개발 및 테스트 엔지니어들은 새로운 데이터 포맷, 터미네이션 모델, 멀티플 레인과 내장된 에러 카운팅을 포함한 다양하게 구현된 MIPI™ 포트를 측정해야 한다.
데이터 센터의 급격한 트래픽 증가에 따라 서버와 스토리지 설계는 백플레인과 네트워크 포트 상에서 훨씬 높은 대역폭을 지원해야만 한다.
PC보드, 케이블 또는 광학적 인터커넥트 상의 멀티플 레인에서 25-Gb/s나 그 이상의 데이터 속도는 100GbE, CEI 그리고 Fibre 채널과 같은 최신 업계 표준들 대부분에서 요구되고 있다.
25-Gb/s리시버 포트 등의 테스트는 간섭(interference), 채널 손실, 크로스토크 등과 같은 디바이스의 허용치를 특성화 하기 위해 새로운 테스트 성능을 요구하고 있다.
애질런트의 디지털 및 포토닉 테스트 디비전의 제너럴 매니저 및 부사장인 유르겐 벡(Juergen Beck) 부사장은 "새로운 M8000 시리즈 BER 테스트 솔루션은 R&D 및 테스트 엔지니어가 차세대 수신기 테스트에 대한 도전 과제를 마스터 할 수 있게 도와준다." 라고 말하며 "뛰어난 통합성과 확장성을 갖춘 M8000 시리즈는 엔지니어들이 고속 디지털 설계의 정확한 수신기 특성화를 가속화할 수 있는 기반이 될 것이다"고 밝혔다.
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신윤오 기자
(yoshin@techworld.co.kr)